BERTScope® 비트 에러율 테스터
오실로스코프의 통찰력을 갖춘 BERT의 신뢰성
BERTScope™ 비트 에러율 테스터 시리즈는 새로운 방식으로 시리얼 데이터 시스템의 신호 무결성을 측정합니다. 즉, 아이 다이어그램 분석과 BER 패턴 발생 기능을 결합하여 더욱 빠르고 정확하며 철저하게 비트 에러율을 감지합니다. BERTScope™ 비트 에러율 테스터 시리즈를 사용하면 문제가 있는 비트와 패턴 시퀀스를 손쉽게 분리하고, 전례 없이 심층적인 통계 측정 기능을 제공하는 7가지 유형의 고급 오류 분석을 통해 세밀하게 분석할 수 있습니다.
BERTScope® 비트 에러율 테스터 시리즈의 모델:
| 모델 |
설명 |
최대 비트 속도 |
| BSA85C |
비트 에러율 애널라이저 |
8.5Gb/s |
| BSA125C |
비트 에러율 애널라이저 |
12.5Gb/s |
| BSA175C |
비트 에러율 애널라이저 |
17.5Gb/s |
| BSA286CL |
Bit Error Ratio Analyzer |
28.6 Gb/s |
개요
| 기능 |
장점 |
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패턴 발생 및 오류 분석 기능,
최대 28.6Gb/sec의 고속 BER 측정
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한 장비에 발생 및 분석 기능이 결합되어 있어 오늘날의 3세대 시리얼/IEEE802.3ba, 32GFC 통신 표준에 대한 리시버 BER 컴플라이언스 테스트를 수행할 수 있습니다. |
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SRS(stressed eye sensitivity)에
대한 통합 스트레스 발생기 및
지터 허용 오차 컴플라이언스 테스트 |
테스트 신호의 데이터 속도, 적용된 스트레스 및 데이터 패턴을 서로 독립적으로 즉시 변경할 수 있어 칩 세트/시스템 민감도 테스트에 필요한 여러 신호 편차 세트를 지원할 수 있습니다. |
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PCI Express, USB, SATA 및 기타 통신 표준에 대한 pass/fail 마스크가 포함된 통합 BER 상관
아이 다이어그램 분석 |
테스트 결과를 표준별 마스크와 비교할 수 있는 익숙한 아이 다이어그램을 제공하여 다른 BERT와 달리 디버그 환경을 향상시킵니다. |
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최고 28.6Gb/sec의 PRBS 31 및
기타 디지털 신호에서 오류 위치와 BER 윤곽 분석 |
BER 측면에서 신호 무결성을 빠르게 이해할 수 있습니다. 또한 오류 위치에서 자세한 BER 패턴 민감도를 파악하여 결정적인 BER 오류와 무작위 BER 오류를 더 빠르게 식별할 수 있습니다. |
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옵션 지터 맵이 DUT 입력 시 빠른
지터 분해, 정확한 스트레스 교정
기능 제공 |
삼각 측량을 사용하여 긴 패턴의 PRBS31 지터를 빠르고 효과적인 방법으로 판단할 수 있습니다. 지터 분석을 그래픽으로 표시하여 더욱 자세하면서도 이해하기 쉬운 분석 결과를 제공합니다 |
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옵션 디지털 프리엠퍼시스
프로세서를 통해 패턴 발생기 공급 데이터에 대한 사용자 제어
프리엠퍼시스 제공 |
PCI Express, 10GBASE-KR, SATA, 40GBASE-KR4, 100GBASE-CAUI 같은 표준에 대한 신호 컴플라이언스 테스트를 수행할 수 있습니다. |
| 옵션 클럭 리커버리 유닛에서 최대 28.6Gb/s의 클럭 리커버리 제공 |
고속 시리얼 및 통신 시스템 표준에 대한 컴플라이언스 테스트와 정확한 아이 패턴 분석을 수행할 수 있습니다. |
BERTScope BSA Series
