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 AFG31000 Series |
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| 대역폭 : 최대 250MHz |
| 샘플링 속도 : 최대 2GSa/s |
| 레코드 길이 : 최대128Mpts |
| 수직 해상도 : 14비트 |
| 9인치 터치스크린 |
| 시퀀스 기능 지원 |
| InstaView 지원 |
| 3년 보증 |
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AFG31000 임의 함수 발생기
InstaView™ 기술이 내장된 AFG31000 시리즈는 내장 파형 발생 애플리케이션, 특허를 바탕으로 실시간 파형 모니터링 및 최신 사용자 인터페이스가 포함된 최초의 고성능 AFG 입니다.
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InstaView™를 확인하세요 |
DUT에서 실제 파형 확인(반사 손실을 고려하여)
특허받은 InstaView™ 기술로 오실로스코프, 프로브 또는 추가 장비 없이도 AFG의 DUT(피시험 장치)에서 직접 실제 파형을 확인할 수 있으므로 테스트 시간과 비용을 줄일 수 있으며 테스트 결과에 일치하지 않는 임피던스가 나타날 위험을 없앨 수 있습니다. |
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어드밴스 모드의 고픔질 신호
제품을 바로 사용해서 채널당 최대 16Mpts에 달하는 긴 정밀 파형을 연속으로 생성할 수 있습니다. 가변 샘플링 클럭 기술을 사용하면 파형 데이터가 전혀 손실되지 않습니다. 업그레이드를 통해 테스트를 원하는 만큼 향상 시킬 수 있으며, 기존 AWG비용의 1/10만으로 복잡한 파형을 프로그래밍할 수 있습니다.
선택적으로 업그레이드하여 다음 기능을 사용할 수 있습니다.
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채널당 128Mpts로 메모리 확장 (옵션 MEM)
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유연한 복합 타이밍에 따라 긴 파형을 작성하기 위한 최대 25가지 항목 및 컨트롤 (브랜치, 반복, 대기, 점프, 이동, 외부 트리거, 수동 트리거, 타이밍된 트리거 및 SCPI 명령) |
간편하게 3단계로 파형 시퀀스를 프로그래밍합니다. 꼭 봐주십시오. |
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간소화된 ARB 파형 생성
내장 arb 편집 도구인 ArbBuilder에는 ARB 파형을 생성, 편집 및 전달하기 위한 모든 작업이 포함되어 있으므로 별도로 PC에 연결하거나 파일을 전송할 필요가 없습니다. 진폭 및 오프셋 데이터가 파형에 저장되므로, 정규화된 arb를 로드한 후에 설정을 조절할 필요가 없습니다. |
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스마트 사용자 인터페이스
시중에 나와 있는 제품 중 가장 큰 AFG 터치스크린으로 더 빠르게 학습하고 더 빠르게 작업할 수 있습니다. 9인치 화면이 스마트 장치처럼 작동하므로, 핀치, 중 및 스크롤을 통해 간소화된 메뉴에서 설정 및 매개 변수를 쉽게 찾을 수 있고, 자주 사용하는 설정의 바로 가기를 찾을 수 있습니다. |
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두 대 이상의 AFG31000 장치를 동기화하는 방법을 확인하십시오. |
두 개 이상의 채널이 필요하십니까?
DUT(피시험 장치)를 시뮬레이션하기 위해 두 개 이상의 파형 채널이 필요한 경우 다중 동기화를 사용하여 두 개 이상의 장비를 손쉽게 동기화할 수 있습니다. 화면상에서 셋업 Wizard를 통해서 3분 이내 케이블 연결 및 설정 프로세스를 확인할 수 있습니다. |
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수가 많을수록 강력
- 1 채널 또는 2채널 모델
- 1mVp-p ~ 10Vp-p에서 50Ω 로드에 이르는 출력 진폭 범위
- 기본(AFG) 모드
- 25MHz, 50MHz, 100MHz, 150MHz 또는 250MHz 사인파
- 250MSa/s, 500MSa/s, 1GSa/s 또는 2GSa/s 샘플링 속도
- 14비트 수직 해상도
- 연속, 변조, 스윕 및 버스트 실행 모드
- 각 채널의 128kpts 임의 파형 메모리
- 어드밴스 모드
- 연속 모드 및 옵션 시퀀스, 트리거 및 게이트 모드
- 각 채널의 16Mpts 임의 파형 메모리 (옵션 128Mpts)
- 루프, 점프 및 대기 이벤트의 시퀀스 모드에서 최대 256개 단계
- 가변 샘플 클럭 1µSa/s ~ 2GSa/s
- 입도가 1포인트인 최소 파형 길이 168pts
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AFG31000의 지터(상단파형) 및 이전 발생 AFG(하단 파형)
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노이즈 및 지터를 10배까지 감소
낮은 노이즈 층 및 1mVpp 수준의 낮은 출력 진폭을 통해 노이즈 및 지터 사양이 지난 세대 기술보다 10배 더 개선되었으며 테스트 명확도와 충실도가 보장됩니다. |
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온라인으로 손 쉽게 업그레이드
소프트웨어 기반 아키텍처를 통해 웹 사이트에서 직접 AFG31000을 업그레이드 할 수 있으며 필요에 맞게 개선된 새 옵션을 사용할 수 있습니다.
현재 사용 가능
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대역폭 업그레이드
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메모리 크기 업그레이드
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파형 시퀀스 업그레이드 |
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모델
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모델 |
아날로그 채널 |
출력 주파수 |
레코드 길이 |
샘플링 속도 |
수직 해상도 |
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AFG31021 |
1 |
20MHz |
16Msa/ch |
250MS/s |
14 |
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AFG31022 |
2 |
20MHz |
16Msa/ch |
250MS/s |
14 |
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AFG31051 |
1 |
50MHz |
16Msa/ch |
500MS/s |
14 |
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AFG31052 |
2 |
50MHz |
16Msa/ch |
500MS/s |
14 |
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AFG31101 |
1 |
100MHz |
16Msa/ch |
1GS/s |
14 |
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AFG31102 |
2 |
100MHz |
16Msa/ch |
1GS/s |
14 |
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AFG31151 |
1 |
150MHz |
16Msa/ch |
2GS/s |
14 |
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AFG31152 |
2 |
150MHz |
16Msa/ch |
2GS/s |
14 |
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AFG31251 |
1 |
250MHz |
16Msa/ch |
2GS/s |
14 |
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AFG31252 |
2 |
250MHz |
16Msa/ch |
2GS/s |
14 |
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아날로그 회로 특성화
This is an analog world. 모든 물리적 현상이 아날로그 신호로 캡처되고 제공됩니다. 따라서 증폭기, 필터 및 컨버터와 같은 아날로그 회로의 성능을 특성화해야 합니다.
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InstaView™ 기술로 임피던스 매칭이 되지 않은 DUT에서 발생한 파형의 왜곡 현상을 해결
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25MHz ~ 250MHz의 주파수 범위
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높은 신호 충실도가 보장되므로 외부 필터 또는 감쇠리가 필요 없음
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주파수 응답성 및 잘 교정되어 있는 사인파 플랫 상태를 통해 주파수 응답 테스트를 간편하게 진행 가능 |
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실제 신호를 복제
센서는 자동차, 의료 장비부터 가전제품에 이르기까지 거의 모든 최신 전자 설계에 널리 사용됩니다. 파형을 캡처한 후, 복제하여 모든 문제 해결에 사용하거나 AFG를 통한 검증을 진행하는 작업은 아직 까다로운 과정입니다. |
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제품 검증 및 성능 특성화
제품을 시장에 출시하기 전에 테스트 엔지니어가 집중적으로 테스트 사례를 진행하여 스펙을 만족할 수 있도록 해야 합니다. 그렇지만 이러한 프로세스는 시간이 많이 소요되는 반복적인 작업입니다.
- 자동 테스트를 위한 전체 프로그래밍 기능 및 수동 테스트를 위한 직관적인 사용자 인터페이스
- 파형 시퀀스를 통해 여러 테스트 사례들을 싱글 시퀀스로 자동화할 수 있습니다.
- 유연한 분기화(Branching) 방법으로 높은 효율성 획득
- 최대 128Mpts의 임의 메모리 및 내장 비휘발성 플래시 메모리로 모든 파형 및 테스트 사례 저장
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클럭 또는 펄스와 시스템 동기화
디지털 서롁의 모든 회로 부분은 클럭 속도에 맞춰 동시기으로 작동합니다. 큰 시스템의 모든 장치들은 트리거된 신호와 조정되어 적절하고 안정적으로 작동 되어야 합니다. AFG31000은 클럭 및 트리거링 펄스를 생서하는 비용 효율적 방법입니다.
- 최대 160MHz의 펄스/사각 주파수 범위
- 주파수 응답성이 빨라서 한 클럭 조정이 용이해졌습니다.
- Easy-to-use wizard가 여러 장치를 동기화하여 채널 수를 확장하는 프로세스를 안내합니다.
- 낮은 지터 레벨을 통해 보다 안정적으로 시스템 트리거가 가능합니다.
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전원 장치를 구동하는 펄스
IGBT 또는 MOSFET의 동적 성능 특성화에서는 펄스를 사용해서 게이트 켜짐 또는 꺼짐을 구동해야 합니다.
- 조절 가능한 듀티 사이클 및 에지 시간으로 간편하게 펄스 발생
- 유연한 타이밍으로 펄스 트레인을 생성하기 위한 파형 시퀀스
- 스트레스 테스트를 위해 DC 파워서플라이에 노이즈를 추가하기 위한 내장 노이즈 발생기 및 플로팅 접지
- 출력 채널은 다운타임 최소화를 위해 과전류로부터 보호됩니다.
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연구 기관 및 교육 관련 고객
연구원 및 교육 담당자들에게는 연구 및 교육 업무 수행을 위해 다양한 신호가 필요합니다. Geiger-Muller 카운터의 출력을 시뮬레이션하기 위한 펄스 시리즈만큼 간단한 테스트도 있고 변조된 긴 베이스밴드 IQ만큼 복잡한 테스트도 있을 수 있습니다.
- InstaView™ 기술로 복잡한 로드에서 발생하는 인가 파형 왜곡을 해소
- 다재다능한 기능 통합
- 이중 작동 모드로 사용 편의성과 유연성의 균형을 이루어 가장 복잡한 파형 생성
- 내장 ArbBuilder를 사용하여 화면에서 직접 임의 파형을 생성하고 편집 가능
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